東芝AI技術カタログ
メディアデータ分析知識整理
製造不良データ分析
応用先
- ・製造現場の歩留解析
ベンチマーク・強み・実績
- ・International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) 2016 Best Paper Award
- ・2016年度 人工知能学会 現場イノベーション賞・金賞
- ・東芝グループの製造拠点に適用
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参考文献：
- ・K. Nakata, et al., “A Comprehensive ‘Big-Data-Based’ Monitoring System for Yield Enhancement in Semiconductor Manufacturing,” IEEE Trans. on Semiconductor Manufacturing, Vol. 30, No. 4, Nov. 2017.
- ・中田康太, 他, “ビッグデータを活用した歩留まり解析支援システム”歩留まり新聞“”, 東芝レビューVol.73, No.3, pp.18-21, 2018.
- ・2016年度 人工知能学会 現場イノベーション賞・金賞を受賞－四日市工場における半導体生産性改善
- ・AIが支える世界最先端の半導体製造プロセス（東芝デジタルソリューションズ株式会社）