東芝AI技術カタログ

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製造不良データ分析

大量の製造不良データを分析して生産性を向上します。


  • 検査データから不良の原因となった工程を推定して早期対処を可能にします。
  • 東芝の半導体製造現場で活用されています。

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応用先



  • 製造現場の歩留解析

ベンチマーク・強み・実績



  • International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) 2016 Best Paper Award
  • 2016年度 人工知能学会 現場イノベーション賞・金賞
  • 東芝グループの製造拠点に適用