東芝AI技術カタログ

• 製造現場の歩留解析

• International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) 2016 Best Paper Award
• 2016年度 人工知能学会 現場イノベーション賞・金賞
• 東芝グループの製造拠点に適用

問合せの際はタイトル[東芝AI技術カタログ:製造不良データ分析]やURLを文面に含めてください。
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参考文献：

• K. Nakata, et al., “A Comprehensive ‘Big-Data-Based’ Monitoring System for Yield Enhancement in Semiconductor Manufacturing,” IEEE Trans. on Semiconductor Manufacturing, Vol. 30, No. 4, Nov. 2017.
• 中田康太, 他, “ビッグデータを活用した歩留まり解析支援システム”歩留まり新聞“”, 東芝レビューVol.73, No.3, pp.18-21, 2018. (PDF形式)(327KB)
• 2016年度 人工知能学会 現場イノベーション賞・金賞を受賞－四日市工場における半導体生産性改善
• AIが支える世界最先端の半導体製造プロセス（東芝デジタルソリューションズ株式会社）