機能・システム構成
製造業向けに最適化された外観検査ソリューションの機能概要、システム構成、導入形態などについて紹介します。
主な機能の紹介
キズ・打痕等検査(良品学習)
良品画像のみで閾値を設定し、キズや打痕等の外観不良の検査の可否を確認
主な機能
- アライメント
- 良品学習
- 特徴量フィルタ
欠陥特微解析・可視化(モノクロ・カラー)
欠陥の特徴量を可視化し、OK/NGの境界線を明確にした閾値設定可能かを確認
主な機能
- 欠陥領域抽出
- 欠陥特徴量データ集計
- ヒストグラム、散布図表示
欠陥検出評価
画像前処理や後処理等を行うことで、欠陥を抽出できるかを確認
主な機能
- 画像フィルタ
- 二価化フィルタ
- 特徴量フィルタ
欠陥画像再判定
欠陥特微解析・可視化機能で調整した閾値を元に欠陥画像の再判定を行い、その結果を確認
主な機能
- 閾値設定
- 履歴ファイル取込
- 欠陥マップ表示
欠陥判定最適化手法※特許出願済
キズ・打痕等検査(良品学習)と欠陥特微解析・可視化機能の補正・分類処理を組み合わせることで、欠陥に応じた最適な閾値で判定できる機能です。
- 欠陥画像の位置や輝度ばらつきを補正し、同一条件で判定可能
- 欠陥部分から抽出した特徴量に基づいて分類
- 分類パターンごとに良品閾値を設定し判定
外観検査装置で検出された欠陥画像を再判定し、従来人手で確認していた工数を大幅に削減できます。
機能一覧(抜粋)
| 機能 | 内容 |
|---|---|
| キズ・打痕等検査(良品学習) |
|
| 欠陥特徴解析・可視化 |
|
欠陥検出評価 |
|
| 欠陥画像再判定 |
|
※TDSL製ウェブ外観検査装置M9000シリーズのみ
システム構成
目視検査自動化の活用イメージ:過検出再判定(枚葉検査)
表面検査でNG検出したワークに対して、再判定を支援する仕組みを追加することで高精度な自動化を実現します。
動作環境
OS Windows11
CPU 8コア以上推奨
MEM 8GB以上推奨
HDD 100GB以上
GPU 不要
OS Windows11
CPU 8コア以上推奨
MEM 8GB以上推奨
HDD 100GB以上
GPU 不要
導入サポート
光学系システム構築(カメラ、レンズ、照明の組み合わせ)の支援
外観検査における光学系(カメラ・レンズ・照明)は、検出精度・安定性・処理効率に大きく影響する重要な要素です。当社では、お客様の検査対象物の材質・形状・反射特性、ならびに検査環境や検査時間に応じて、最適な照明・レンズ・カメラ構成を個別に検討・ご提案いたします。高精度な画像取得を実現するための光学設計と、AI処理との親和性を考慮したシステム構成を実現します。
東芝 総合研究所 生産技術センター
東芝 総合研究所 生産技術センター の光応用・画像検査技術について
東芝 総合研究所 生産技術センターの光応用・画像検査技術部門では、製造現場における外観検査の高度化に向けて、検査対象の材質・形状・反射特性・検査環境に応じた最適な照明・レンズ・カメラ構成を検討・提案しています。高度な光学設計と画像処理技術を融合し、検査精度の向上と工程の安定化を支援します。
各種照明メーカとの技術連携
当社では、外観検査における光学系の最適化に向けて、各社の技術協力を得て、照明・レンズ・カメラの構成を対象物や検査条件に応じて設計・提案しています。各社の高度な光学技術と当社の検査ノウハウを融合することで、検査精度の向上と安定した画像取得を実現し、多様な製造現場に対応可能なソリューションを提供します。
幅広い製造現場に対応可能な搬送・ワークハンドリングの支援
お客様の製造環境、ワーク形状、サイクルタイムなどの個別要件に応じて、最適な搬送・ワークハンドリング装置をオーダーメイドで設計・提案。高精度な位置決め、安定した搬送制御、柔軟なインターフェース設計により、外観検査工程との高い親和性を確保。多品種少量生産から高速ラインまで、幅広い製造現場に対応可能な構成をご紹介します。
医薬品関係
ボトル外観検査装置
ボトル全面(内面・外面)高速検査
※株式会社アシストシステム様ご提供
金属部品関係
金属プレート検査装置
上位システムと連携した加工、加工面の外観不良検査
※株式会社アシストシステム様ご提供
素材関係
球体検査装置
球面の表面を撮像するハンドリングを実現
※株式会社オフィス・エス様ご提供
医薬品関係
シリンジ検査装置
円柱ワークの外周検査を高速サイクルタイムで実現
※株式会社SEITOKU様ご提供

