- 数値データ分析
- 因果推論
Transfer Lassoによる不良要因解析
応用先
- 半導体工場での不良要因解析
- プラントでの不良要因解析
ベンチマーク・強み・実績
- 半導体工場等における解析結果の精査時間を大幅に削減
問い合わせ窓口
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参考文献：
- 工場の現場技術者の知見を反映・学習する不良原因解析AIを開発
- Takada, M., & Fujisawa, H. (2020). “Transfer Learning via L1 Regularization”. NeurIPS2020.
- 日経ロボティクス2021年2⽉号 Sexy Technology 解説記事
