東芝AI技術カタログ

• 画像を用いた変状検出全般（ひび、さびなどの様々な欠陥）

• 従来の弱教師あり変状検出技術に比べて、提案手法により変状箇所の推定精度が向上することを3種類の公開データセットで確認。

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問合せの際はタイトル【東芝AI技術カタログ：画像から変状や欠陥を検出できる技術】やURLを文面に含めてください。
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参考文献：

• G. Minamoto, et al., "WEAKLY SUPERVISED DEFECT LOCALIZATION WITH RESIDUAL FEATURES", 2025 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP2025)